摘要
以金属氧化物半导体器件为例,简单地介绍了静电的危害以及基本的防护方法。
Taking the metal--oxide--semiconductor (MOS) for illustration, the article briefly presents the electrostatic damage and its basic control methods.
出处
《航空精密制造技术》
1993年第4期19-21,30,共4页
Aviation Precision Manufacturing Technology
关键词
静电放电
静电敏感器件
electrostatic discharge
static sensitive device
