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X射线辐照对PN结反向特性的影响被引量：1

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摘要核辐照对半导体器件有加固作用已经被实践所证实.本文着重探讨一定剂量的X射线对2CK系列开关二极管和GaAs_(0 15)P_(0.05):N为材料的黄色LED的辐照作用,发现它有助于提高其反向击穿电压,认为这是结区内自由载流子浓度的减少,PN结宽度增加引起的.

作者黄荣耀林秀华

机构地区厦门大学物理学系

出处《厦门大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 1993年第S2期301-303,共3页 Journal of Xiamen University：Natural Science

关键词 X射线辐照 PN结结型器件反向特性

分类号 N55 [自然科学总论]

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厦门大学学报（自然科学版）

1993年第S2期

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