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用S_(8p)仪测录像带和带基表面三维粗糙度

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摘要 一、前言录像带的表面粗糙度对录像带电磁性能的影响是很大的。带基的表面粗糙度,也是录像带性能的决定因素之一。因此,测试录像带及其带基的表面粗糙度是很有意义的。测试录像带及其带基表面粗糙度常用的方法是触针法,常用的仪器是电子轮廓仪,
作者 霍琼宗 王颖
机构地区 杭州磁带厂
出处 《信息记录材料》 1991年第3期31-33,共3页 Information Recording Materials
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