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外延生长ZnSe/GaAs中剩余应力对激子发光线劈裂的影响
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摘要
宽禁带Ⅱ—Ⅵ族化合物,例如 ZnSe 和ZnS 是用于发蓝光的光电子学器件的有前景的材料,但却很难实现对 p—型电导的控制,这主要是生长在不同衬底材料上的外延层内的晶格失配导致的晶格缺陷所致。本文报导的是 GaAs 衬底上生长的 ZnSe外延层中剩余应力的实验结果。
作者
周华
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
1991年第2期14-15,共2页
Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays
关键词
ZNSE
剩余应力
外延层
晶格失配
激子
光谱显示
晶格缺陷
宽禁带
价带
发光光谱
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
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液晶与显示
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