3.3-27.8 KeVX射线能区Cu的光电截面测量

用质子激发单元素靶或化合物靶产生的特性X射线作为光源,用Si(Li)谱仪测量X射线谱,用穿透法测量Cu的质量衰减系数或总的衰减截面。上述光源的特点是:(1)信噪比好,比放射性同位素X光源或光机—二次靶组合光源的信噪比好1—2量级。(2)不象放射性同位素光源那样受限制,只要选择合适的元素作靶,就可得到一系列能量合适的X光源供实验使用。