DB—1型半导体材料禁带宽度测试装置

一、引言半导体技术的发展必须依赖于半导体材料的发展。禁带宽度是决定半导体材料特性的一个重要参数。该参数的测定在进一步研究半导体材料的能带结构、导电特性和加快半导体技术的发展等方面具有重要的意义。