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N沟硅栅(6μm)E/D工艺探讨
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摘要
本文以 LN6845(其面积较大,功能较复杂)为例,对 E/D 工艺中的若干问题,如:工艺路线、材料选取、参数规范、工艺环境、工艺条件控制以及成品率决定因素等有关方面均做了详细探讨与介绍,对器件性能的提高以及成品率的稳定也做了实际探讨与介绍,以使工艺条件逐步最佳化。
作者
郭玉璞
机构地区
机电部东北微电子研究所
出处
《微处理机》
1990年第4期39-44,共6页
Microprocessors
关键词
工艺路线
E/D
工艺条件
硅栅
器件性能
材料选取
等平面工艺
淀积
氮化硅
底膜
分类号
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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