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框架式断路器的触头超程公差仿真分析技术 被引量:1

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摘要 基于产品设计中的尺寸管理思想,结合计算机仿真分析软件VSA和分析技术,以框架式断路器为例对断路器的触头超程理论值进行公差分析。通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产品尺寸质量和降低产品生产成本与开发周期。
出处 《电气制造》 2011年第10期52-54,共3页
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