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SJ-LDMOST中的衬底辅助耗尽效应
Substrate Assisted Depletion Effect in SJ-LDMOST
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摘要
本文分析了SJ-LDMOST中衬底辅助耗尽效应的产生机理。文中将业界消除衬底辅助耗尽效应的主要方法分成两类,并提出消除衬底辅助耗尽效应的途径。
作者
成建兵
机构地区
南京邮电大学微电子系
出处
《电子产品世界》
2011年第12期30-31,共2页
Electronic Engineering & Product World
基金
江苏省自然科学基金资助(BK2011753)
关键词
SJ-LDMOST
功率集成电路
衬底辅助耗尽效应
击穿电压
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
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电子产品世界
2011年 第12期
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