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万工显光学接触器的测力对测量精度的影响及其消除

The effect of measuring force of optical contact probe of universal tool maker's microscope on measurement accuracy and its eliminating method
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摘要 研究了万工显光学接触器在测量过程中其测力对测量精度的影响,建立了该项误差的数学模型,并通过实例对误差进行修正,消除了测力所引起的测量误差,提高了万工显的测量精度。 The effect of measuring force of optical contact probe of universal tool maker's microscope on the measurement accuracy is researched and the mathematical model of this error is established.An example to explain how to correct the error is present,Thereby,the measuring errors caused by measuring force has been eliminated,the accuracy is enhanced.
作者 陈晓怀
机构地区 合肥工业大学
出处 《宇航计测技术》 CSCD 北大核心 1990年第6期18-22,共5页 Journal of Astronautic Metrology and Measurement
关键词 光学接触器 测力 测量精度 Optical contact probe Measuring force Bending Measurement error Error checking
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