被污染Au-Si表面势垒探测器性能的恢复方法

RECOVERY OF PERFORMANCE OF Au-Si SURFACE BARRIER DETECTOR CONTAMINATED

金硅面垒半导体探测器是带电粒子能谱测量和α,β放射性强度测量的重要探测元件。这种探测器具有近似理想的伏安特性、噪声低、入射窗薄、线性好、脉冲上升时间短,能量分辨好等优点;另外又能做成各种几何形状如园形、矩形、环形、条带阵列以及探测器耗尽厚度可根据工作需要直接制备出厚为几微米到几毫米的全耗尽探测器;