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科技动态
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摘要
美国国家仪器有限公司(NI公司)2011年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于2011年11月18日在上海国际会议中心圆满落幕。围绕“融汇成功、启迪未来”这一主题,本届NIDays打造了一场分享与交流的技术盛会,聚焦不同行业的成功应用,启迪未来的项目实践,加速创新。
出处
《测控技术》
CSCD
北大核心
2011年第12期123-124,共2页
Measurement & Control Technology
关键词
科技动态
美国国家仪器有限公司
NIDAYS
国际会议中心
NI公司
图形化
分类号
TP311.56 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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1
NIDays 2011全球图形化系统设计盛会中国站圆满落幕[J]
.计算机测量与控制,2011,19(12).
2
刘璇.
融汇成功、启迪未来——NIDays 2011活动记[J]
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3
科技动态[J]
.测控技术,2004,23(4):79-80.
4
崔建平.
芯片+软件=以软件为核心的仪器[J]
.国外电子测量技术,2013,32(12):19-19.
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5
唐德生.
“图形有边 系统无界”——NIDays 2013在上海成功举办[J]
.计算机测量与控制,2013,21(12).
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.测控技术,2013,32(4):143-144.
7
2009企业信息化高峰论坛上海召开[J]
.中国信息化,2009(14):124-124.
8
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.苏南科技开发,2004(10):65-65.
9
龚丹.
第十三届NIDays关注四大热门领域[J]
.电子设计技术 EDN CHINA,2012,19(1):58-58.
10
NI助力中国“智”造 共创物联时代[J]
.电子测量技术,2015,38(11):153-154.
测控技术
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