摘要
利用原子力显微镜研究了镀Pt探针与生长在银基底上的单根ZnO纳米棒接触的电学特性。实验测得的I-V特性曲线呈基本对称的非线性形状,表明镀Pt针尖与ZnO纳米棒顶端形成了良好的肖特基接触。同时,研究发现随着外加载荷的增加,针尖与样品间接触面积增大,使得反向截止电压和正向导通电压均有所升高,而理想因子降低。
The electrical characteristics of Pt-coated tip contact to single ZnO nanorod are studied with atomic force microscopy.The measured I-V curves are nonlinear and near symmetric,which indicates a good Schottky contact between Pt tip and ZnO nanorod.When the load is increased,the contact area between the tip and sample gets large.Therefore,the reverse breakdown voltage and the forward voltage go up,and the ideality factor decreases.
出处
《南京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第6期837-840,共4页
Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics
基金
国家自然科学基金(11102075)资助项目
江苏省自然科学基金(BK2011490)资助项目
江苏大学科研启动基金(10JDG036)资助项目