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Evidence of Cu(Ⅱ) Ion Interaction in Crosslinked Chitosan Thin Film from X-Ray Photoelectron Spectroscopy and Field Emission Scanning Electron Microscopy

Evidence of Cu(Ⅱ) Ion Interaction in Crosslinked Chitosan Thin Film from X-Ray Photoelectron Spectroscopy and Field Emission Scanning Electron Microscopy
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机构地区 Department of Physics
出处 《材料科学与工程(中英文B版)》 2011年第5期584-590,共7页 Journal of Materials Science and Engineering B
关键词 场发射扫描电子显微镜 X射线光电子能谱 交联壳聚糖 离子吸附 相互作用 薄膜 XPS分析 Cu(Ⅱ) ion, crosslinked chitosan, X-ray photoelectron spectroscopy
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