NIDays 2011全球图形化系统设计盛会中国站圆满落

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摘要美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）于11月18日在上海国际会议中心成功举办以＂融汇成功、启迪未来＂为主题的NIDays 2011全球图形化系统设计盛会（中国站）。本届NIDays打造了一场分享与交流的技术盛会,聚焦不同行业的成功应用,启迪未来的项目实践,加速创新。活动设7大专题,

作者张莹

机构地区《电子测量技术》编辑部

出处《电子测量技术》 2011年第12期1-2,共2页 Electronic Measurement Technology

关键词 NIDAYS 图形化 INSTRUMENTS 中国设计系统美国国家仪器有限公司国际会议中心

分类号 TN152 [电子电信—物理电子学]

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