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地质样品中痕量锗的原子荧光光谱法 被引量:3

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摘要 随着地质项目的开展,锗已由可检元素变为必检元素。本文就原子荧光光谱法对锗的测定进行了研究,分析了溶矿过程中四酸(HNO3、H2SO4、HClO4、H3PO4)对Ge的影响,采用AgNO3滤气装置消除气相干扰,测定了地质样品中的痕量锗,方法检出限为0.07μg/g,用土壤国家一级标准物质GSS-1至GSS-8验证方法,结果与标准值相符,其相对标准偏差(RSD,n=12)为1.51%~4.72%。
作者 王国新
出处 《黑龙江科技信息》 2012年第2期66-66,共1页 Heilongjiang Science and Technology Information
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献3

  • 1陈青川,杨惠芬.锗的光度分析进展[J].光谱实验室,1994,11(6):25-37. 被引量:12
  • 2杨密云 郭小伟.氢化物无色散原子荧光法测定地球化学样品中的锗[J].分析化学,1986,14(5):133-133.
  • 3郭小伟 张文琴 等.氢化物-无色散原子荧光法测定地质样品中微量硒及碲[J].岩石矿物及测试,1983,2:288-288.

共引文献26

同被引文献30

引证文献3

二级引证文献10

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