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CMOS器件抗静电措施的研究

Anti-static measures of CMOS devices
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摘要 由于CMOS器件静电损伤90%是延迟失效,对整机应用的可靠性影响太大,因而有必要对CMOS器件进行抗静电措施。本文描述了CMOS器件受静电损伤的机理,从而对设计人员提出了几种在线路设计中如何抗静电,以保护CMOS器件不受损伤。 As CMOS devices are static damage to 90% delay failure,the reliability of the whole application too much influence,hence the need for anti-static measures of CMOS devices.This paper describes the CMOS devices from electrostatic damage mechanism,which made several of the designer how the anti-static circuit design,to protect CMOS devices from damage.
作者 谭婕娟
出处 《电子设计工程》 2012年第1期130-132,共3页 Electronic Design Engineering
关键词 静电 静电损伤 CMOS器件 保护措施 anti-static electrostatic damage CMOS devices protective measures
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二级参考文献10

  • 1田智会.电装车间的静电危害及静电防护[J].电子工艺技术,2007,28(2):97-99. 被引量:10
  • 2GB/T 17626.2-1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
  • 3IEC 61000-4-2:2001 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part4-2: Testingand measurement techniques Electrostatic discharge immunity test
  • 4姚世伞,电磁兼容标准实施指南,中国标准出版社,1999
  • 5IEC 60749-26, 2006 Semiconductor devices-mechanical and climatic test methods-Part 26: electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing-human body model(HBM) [ S].
  • 6IEC 60749-27, 2006 Semiconductor devices-mechanical and climatic test methods-Part 27: electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing-machine model(MM) [ S].
  • 7GJB3007-1997,防静电工作区技术要求[S].
  • 8中华人民共和国信息产业部.SJ/T10694-2006,电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范[S].中国电子技术标准化研究所出版.
  • 9GB/T4365-1995电磁兼容术语.
  • 10杨文林.静电在LCD制造过程中的危害及防护[J].电子工艺技术,2008,29(5):302-304. 被引量:4

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