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基于故障模型的嵌入式软件缺陷分类研究

Embedded Software Defect Classification Study Based on Fault Model
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摘要 针对嵌入式软件的特点,通过对现有一些软件缺陷分类方法进行研究分析,本文提出了一种基于故障模型的缺陷分类方法。这种方法在软件测试中能有效的发现一些极易疏忽的软件故障。 Aiming at the characteristics of embedded software,based on existing soft'ware defect classification method to carry on the research analysis,this paper presents a method based on fault model of the defect classification method,this method in software testing can effectively find some very easy to neglect sottware fault.
作者 游文麟
机构地区 [
出处 《计算机光盘软件与应用》 2011年第24期165-165,共1页 Computer CD Software and Application
关键词 嵌入式 软件缺陷 故障模型 缺陷分类 Embedded Software defect Fault model Defect classification
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