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ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素 被引量:32

Determination of Al,B,Ba,Ca,Cr,Cu,Fe,Mg,Mn,Ni,Sr,Ti,V and Zn Impurities in Silicon Metal by ICP-AES
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摘要 本文提供了一种测定金属硅中B、Fe、Al、Ca、Mn等 14个杂质元素的ICP AES方法。在样品处理过程中 ,加入适量体积的甘露醇能够抑制B的挥发。用本方法测定了一个国家地球化学标准样 (GSR 4 ) 。 In this paper,an ICP AES method for determining Al,B,Ba,Ca ets impuries in silicon metal is described.The interference factors in the analysis of impurity elements in silicon metal has been studied.The problems of background interference,organic matter(mannitol)interference,major elements interference are discussed.In the procedure of sample preparation,a proper volume of mannitol solution was added to sample,and this can protect B from volatilization.The feasibility of the proposed method is evaluated by analyzing one national geochemical reference samples(GSR 4),The results are satisfactory.
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第1期71-73,共3页 Spectroscopy and Spectral Analysis
关键词 ICP-AES 金属硅 杂质元素 光谱分析 ICP AES Silicon metal Impurity analysis
  • 相关文献

参考文献6

  • 1朱春富,吴琼.IC用高纯试剂中金属杂质分析[J].光谱学与光谱分析,1994,14(3):71-78. 被引量:11
  • 2陈新坤,电感耦合等离子体光谱法原理和应用,1987年,197页
  • 3周复元,分析化学译刊,1986年,3期,160页
  • 4李秀香,分析化学译刊,1985年,3期,55页
  • 5钟辉,分析化学译刊,1985年,4期,1页
  • 6中华人民共和国国家标准.石英玻璃化学分析方法 ,GB32 84 82,1983年

二级参考文献1

  • 1团体著者,光谱技术及超纯分析,1977年

共引文献10

同被引文献222

引证文献32

二级引证文献234

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