摘要
介绍了一种EEPROM存储阵列单Block电路,可以降低RFID TAG存储阵列电路的漏电流.采用EEPROM嵌入式0.18μm工艺,工作电压1.8 V.改进后的电路每个存储单元可以降低最大8μA的漏电流.
A new block circuit for embedded EEPROM is presented,which can reduce leakage circuit of memory efficiently in a short-range passive RFID tag.The fabrication technology is the 0.18 μm four-metal two-poly mixed signal CMOS process with embedded EEPROM.The proposed circuit can reduce maximum to 8 μA per bit cell.
出处
《南开大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第6期11-13,共3页
Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Nankaiensis
基金
天津市科技发展计划项目(09ZCKFGX00900)