Gd_2O_3-MgF_2膜的正电子湮没研究

A Study on the Gd_2O_3-MgF_2 Film by Positron Annihilation Life Spectroscopy

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摘要用 2 2 Na正电子湮没寿命谱学法检测石英片上 Gd2 O3Mg F2 膜 .阐明了正电子湮没参数和膜结构的关系 . In this paper,the quality of Gd 2O 3 MgF 2 film on thin quartz slice is determined by positron annihilation life spectroscopy. It illuminates the relationship between positron annihilation parameters and film structure.

作者官月英史子康

机构地区中国科学院福建物质结构研究所

出处《应用科学学报》 CAS CSCD 2000年第1期55-57,共3页 Journal of Applied Sciences

关键词正电子湮没膜结构 Gd2O3-MgF2膜 film positron annihilation quality

分类号 O484.5 [理学—固体物理]

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