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测定系统分辨率测定极限探讨 被引量:1

THe Probe of Resolving Power Determination Limitation of the Testing System
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摘要 本文论述感光材料分辨率测定系统分辨率测定极限问题 ,分析了影响测定仪分辨率的因素 ,为进一步提高测定系统的分辨率奠定了理论基础。它使得系统照明、分辨率标板、光学成像系统形成最佳匹配。 This paper explains the resloving powet limitation of the photographic material resolving power testing system.The factors of influence on resolving power of the system are analyzed.It provides a theoretical foundation for further improving the intrinsic resolving power of the testing system.It makes the illumination,test charts and optical system to be the best matching in the configuration.
出处 《影像技术》 2000年第1期23-26,共4页 Image Technology
关键词 分辨率测定极限 感光材料 分辨率测定系统 resolving power determination limitation,photographic materal resolving power testing system,micro photography objective lens
  • 相关文献

参考文献5

  • 1InternationalstandardISO6238
  • 2感光材料分辨率的测定,国家标准GB9045-88
  • 3“感光材料分辨率自动测定仪”查新检索报告,天津市科技情报所(1991)
  • 4(美)C.E.K.米斯,T.H.詹姆斯主编,照明过程理论〔下〕,科学出版社(1986)
  • 5刘铁根,赵彤,蔡怀宇,张凤林.一种新型感光材料分辨率测定仪[J].仪器仪表学报,1994,15(3):255-259. 被引量:4

二级参考文献2

  • 1匿名著者,1988年
  • 2匿名著者,照相过程理论.上.下,1986年

共引文献3

同被引文献4

  • 1米斯 C E K 詹姆斯 T H.照明过程理论(下)[M].北京:科学出版社,1986..
  • 2刘铁根,影像技术,2000年,45卷,6期,23页
  • 3米斯 C E K,照明过程理论 (下),1986年
  • 4刘铁根,刘鸣,杜东,张凤林.PI-C型智能化感光材料分辨率测定仪[J].光学技术,1999,25(6):50-53. 被引量:2

引证文献1

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