期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息

数字电路常见故障类型与检测方法及技巧分析 被引量：6

下载PDF
导出
摘要 随着近几年科学技术的不断创新和发展,数字电路也是越来越被广泛的应用到各个领域中。因此,如何解决数字电路中常见的故障也成了现在亟须解决的问题。下面笔者就针对数字电路中常出现的一些故障及如何解决这些故障做出详细的分析、说明。
作者 栾承萍
机构地区 广州市轻工职业学校
出处 《数字技术与应用》 2012年第2期167-168,共2页 Digital Technology & Application
关键词 数字电路 常见故障 检测方法 技巧分析
分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献36

  • 1Bardell P, McAnney W. Built-in Test for VLSI, Pseudorandom Techniques [M]. New York: Wiley, 1987.
  • 2Bennetts R. Design of Testable Logic Circuits [M]. MA: Addison-Wesley, 1984.
  • 3Nagle H. Design for testability and built-in self-test: a review [J]. IEEE Trans. on Industrial Electronics, 1989, 36 (2): 129-140.
  • 4Maunder C. The Test Access Port and Boundary Scan Architecture [M]. CA: IEEE Computer Society Press, 1992.
  • 5Steininger A. Testing and built-in self-test-A survey [J]. Journal of Systems Architecture, 2000, 46: 721-747.
  • 6Amerasekera E, Najm F. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices.2nd [M]. New York: Wiley, 1997.
  • 7Fritzemeier R, Nagle H. Fundamentals of testability-tutorial [J]. IEEE Trans. on Industrial Electronics, 1989, 36 (2): 117-128.
  • 8Goldstein L. Controllability/Observability Analysis Program [A]. IEEE Design Automation Conf. [C]. 1980-06, 190-196.
  • 9Eichelberger E. Structured Logic Testing [M]. Englewood Cliffs , NJ: Prentice Hall, 1991.
  • 10Sheu M. Simplifying sequential circuit test generation [A]. IEEE Design & Test of Comp [C]. IEEE Comp. Soc. Press, 1994: 29-38.

共引文献40

同被引文献12

引证文献6

二级引证文献4

数字技术与应用
2012年 第2期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部