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罗德与施瓦茨公司新品深度发布会召开

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摘要 2011年10月14日,罗德与施瓦茨公司(简称R&S公司)在罗德与施瓦茨大楼召开FSW系列信号与频谱分析仪深度发布会。R&S公司中国区首席代表兼总经理吴克,R&S公司亚太区基站与电子产品测试测量总监MartinStumpf先生,R&S公司测试与测量业务发展部经理安毅博士出席了发布会。吴克先生与Martin Stumpf先生共同为新产品揭幕。
作者 刘璇
出处 《国外电子测量技术》 2011年第11期5-6,共2页 Foreign Electronic Measurement Technology

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