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ICP-AES法直接测定锡锭中的As、Al、Bi、Cd、Cu、Fe、Pb、Se、Sb、Zn 被引量:7

Direct Determination of As,Al,Bi,Cd,Cu,Fe,Pb,Se,Sb,Zn in Tin Ingot by ICP AES
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摘要 以电荷耦合器件为检测器的全谱直读等离子体光谱仪直接测定锡锭中As、Al、Bi、Cd、Cu、Fe、Pb、Se、Sb、Zn 十种杂质元素的含量。该方法简便、快速且具有比化学法更低的检出限,加标回收试验结果表明,回收率为92% - 105% ,RSD 均小于1.5% 。 ICP AES was used for the direct determination of As,Al,Bi,Cd,Cu,Fe,Pb,Se,Sb,Zn in Tin ingot. The matrix effect was studied and the preferable experimental conditions were investigated.The recovery rates of this procedure are between 92% and 105% . The RSD is within 1.5%.The proposed method is simple and rapid with lower detection limits than chemical method.
出处 《光谱实验室》 CAS CSCD 2000年第1期82-84,共3页 Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory
关键词 锡锭 基体效应 电感耦合器件 等离子体光谱仪 ICP AES, Tin Ingot,SCD,Matrix Effect.
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