摘要
该书结合作者多年的研究成果,总结了颗粒粒度测量技术的发展。内容包括颗粒粒度硷测的基本知识、光散射理论及基于光散射原理的颗粒粒度测量技术、超声散射理论及基于光超声散射原理的颗粒粒度测量技术,以及颗粒测量应用中遇到的一些问题的解答。书中还收录了颗粒的折射率及物性参数、标准颗粒等颗粒测量中涉及到的参数和资料,便于查阅。
出处
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2012年第4期573-573,共1页
Chinese Journal of Analytical Chemistry