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边界扫描结构双向端口设计新方法

Novel Method for Designing Bidirectional Port in Boundary-Scan Architecture
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摘要 针对边界扫描结构设计中的双向端口,提出一种新颖的解决方法。该方法通过设计一个专用的双向边界扫描单元,实现对双向端口的可观及可控,克服了传统设计方法的许多缺陷。通过对四总线收发器(三态)74HC243IP核的双向管脚加载该双向边界扫描单元后进行仿真实验,结果表明,该方法简单可行,具有较大的实用价值。 A novel solution was proposed for designing bidirectional port in boundary-scan architecture.In this method,a special bidirectional boundary scan cell was designed to control the port,and limitations using the conventional design method were eliminated.Simulation was made by loading the bidirectional boundary scan cell into the bidirectional port of 74HC243 IP core.Results showed that the method was both simple and effective.
出处 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2012年第2期242-245,共4页 Microelectronics
基金 总装预研基金(9140A17020910JB3509)
关键词 边界扫描 双向端口 可测性测试 Boundary-scan Bidirectional port DFT
  • 相关文献

参考文献8

二级参考文献23

  • 1Keshava Iyenger Satish,杨彤江,马文峰.边界扫描测试技术及可测性标准IEEE 1149.1[J].微电子测试,1995,9(3):42-48. 被引量:1
  • 2张文广,周绍磊,李新.边界扫描技术及其在PCB可测性设计中的应用[J].计算机测量与控制,2006,14(6):713-715. 被引量:5
  • 3杨江平,周曼丽,李桂祥.基于边界扫描测试的电路单元测试性设计研究[J].计算机测量与控制,2007,15(5):587-590. 被引量:3
  • 4IEEE Std 1149. 1 -1990,Test Access Port and Boundary Scan Architecture[ S].
  • 5Texas Instruments. SN54ABT18245A, SN74ABT18245A - Scan Test Devices With 18 -Bit Bus Transceivers [Z]. 1999.
  • 6IEEE Standard 1149.1 - 1990, IEEE Standard Test Access Port And Boundary- Sacn Architecture[ S] . IEEE, 1990.
  • 7IEEEStdI149.1-2001 IEEE Standard Test Access Port and Boundary-scan Architecture[ S].
  • 8郑伟东.基于SOPC的数字电路边界扫描测试研究[D].北京:装甲兵工程学院,2009.
  • 9Texas Instrument.IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primers[Z].Texas Instrument,1997.
  • 10IEEE Std 1149.1.IEEEStandard Test Access Port and BoundaryScan Architecture[S].IEEE Computer Society,2001.

共引文献24

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