上海市计量测试技术研究院2项科研项目获上海市科技进步奖

在2012年3月30日召开的2011年度上海市科学技术奖励大会上，上海市计量测试技术研究院2项科研项目获上海市科技进步奖。 由上海市计量测试技术研究院机械与制造所牵头完成的“微纳米尺度几何量测量和溯源方法研究”项目荣获上海市科技进步二等奖，该项目围绕微米纳米测试与计量领域的一系列关键技术，在相关测试方法、测量仪器研究、量值溯源方法、相关技术的应用开发等方面展开了较为深入的研究，科研成果显著，并取得了较好的社会经济效益。