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0.9μmASIC正向设计中的总体仿真及测试矢量产生 被引量:2

Total Simulation and Test Vector Generation in 0.9μm ASIC Top-Down Design
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摘要 给出了在以VHDL为硬件描述语言的 0 9μmCMOS标准单元正向设计中 ,在存在用户定制单元及ROM宏单元情况下的总体仿真方法 ,讨论了测试矢量的产生及验证。 While user-custom cell and ROM macrocell exist in the 0.9μm CMOS standardcell top-down design flow,the total similation methods are given. The testvector generation and verification are discussed.
作者 居水荣 郑明
出处 《微电子技术》 2000年第2期17-21,共5页 Microelectronic Technology
关键词 总体仿真 测试矢量 正向设计 ASIC 集成电路 MOS Total simulation,Testvector,Top-down design
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