摘要
第四届国际测试自动化与仪器仪表学术会议(ISTAI)是由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办,是测试自动化,控制和仪器仪表领域的国际学术研讨会和技术盛会,已分别于2006年、2008年和2010年在北京和厦门成功举办三届,为测试自动化与仪器领域的发展现状与前景及尖端技术的交流搭建了一个有效平台,来自世界各地的百余位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂,交流信息、探讨问题、促进了相互问的了解和友谊。
出处
《电子测量技术》
2012年第4期143-143,共1页
Electronic Measurement Technology