期刊文献+

电子元器件的失效机理分析 被引量:3

Failure Mechanism Analysis of Electronic Components
下载PDF
导出
摘要 元器件的故障通常被称为失效,了解电子元器件的失效模式、失效机理和电子设备的故障机理,对于诊断设备的故障,保持设备固有的可靠性是十分重要的。文章分析了电子元器件的失效模式和失效机理。 The breakdown of the spare part is usually called expiration. Understanding the expired mode and break- down mechanism of electronic components is very important to examine the breakdown of the equipments and to keep the proper reliablity of equipments. In this paper, the fault mode and the expiration mechanism of the electronic components are analyzed.
作者 孙旭松
出处 《仪表技术》 2012年第5期49-50,54,共3页 Instrumentation Technology
关键词 电子元器件 失效 机理 缺陷 electronic components fault mechanism defect
  • 相关文献

同被引文献12

引证文献3

二级引证文献5

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部