摘要
以米勒矩阵理论为基础,推导出了各向异性表面近正入射反射米勒矩阵,该矩阵对于反射差别谱系统的设计、分析与优化等方面将会起到积极作用.
Mueller matrix on the near-normal incident on anisotropy surface is derived, it will give' aid to designing a new Reflectance Difference spectrometer.
出处
《常熟高专学报》
2000年第2期46-48,54,共4页
Journal of Changshu College