期刊文献+

基于AVR单片机的电子延期雷管设计 被引量:4

Design on Electronic Delay Detonator Based on AVR Single Chip
原文传递
导出
摘要 介绍了一种基于AVR单片机的电子延期雷管的设计方案,在阐述该方案实现方法的同时分析了该电子雷管的安全性和可靠性,给出了电子雷管内部控制电路芯片的功能结构图和部分软件流程图。试验表明,该电子延期雷管可编程延期范围为0~12 000ms,编程增量可以根据工程需要在线设定,其安全可靠、延期精度高、操作使用方便。 A design proposal about a kind of electronic delay detonator based on AVR single chip was introduced in this paper. The realization method was explained, at the same time, the safety and reliability of the electronic delay detonator was analyzed. The structure of the electronic delay detonator, the intemal control circuit structure diagram and part of the software flowchart were given. The experiment showed that the range delay time of the electronic delay detonator is from 0 to 12 000 milliseconds, and the time programmable increment step can be set online according to the engineering need. With the safety and reliability, the accuracy in delay time and easy of use, the electronic delay detonator will be extensively applicable to complicated blasting engineering of high quality.
出处 《火工品》 CAS CSCD 北大核心 2012年第2期44-46,共3页 Initiators & Pyrotechnics
基金 国家自然科学基金项目(51074006) 2011年安徽省高校自然科学基金项目(KJ2011A079)
关键词 电子延期雷管 AVR单片机 智能控制电路 Electronic delay detonator AVR single chip Intelligent control circuit
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献6

  • 1王有绪 等.PIC系列单片机接口技术及应用系统设计[M].北京航空航天大学出版社, 2000.12.
  • 2中华人民共和国国家标准.GB8031—2005.工业电雷管[S].北京:中国标准出版社,2005.
  • 3中华人民共和国国家标准.GB/T13226—91.工业雷管铅板试验方法[S].北京:中国标准出版社,1991.
  • 4中华人民共和国国家标准.GB/T4937-1995.半导体器件机械和气候试验方法[S].北京:中国标准出版社,1995.
  • 5中华人民共和国国家标准.GB/T2423.22-2002.电工电子产品基本环境试验规程一试验N:温度变化试验方法[S].北京:中国标准出版社,2003.
  • 6中华人民共和国国家标准.GB/T2424.19-2005.电工电子产品环境试验——模拟贮存影响的环境试验导则[S].北京:中国标准出版社,2005.

共引文献6

同被引文献50

引证文献4

二级引证文献8

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部