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CQFP系列老炼测试插座的结构 被引量:1

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摘要 陶瓷四方扁平封装(CQFP)是目前国内军用装备中使用频率比较高的封装形式,规格品种多,要保证生产出高质量的封装产品,对封装件进行老炼、测试是集成电路生产过程中一个必不可少的关键工序。CQFP系列老炼测试插座是CQFP进行可靠性验证和各类环境适应性试验的必备的试验装置。本文主要介绍了翻盖式CQFP系列老炼测试插座的结构。
作者 肖颖
出处 《机电元件》 2012年第3期10-15,共6页 Electromechanical Components
  • 相关文献

参考文献4

  • 1余玉芳.机电元件技术手册一一设计.制造.使用.维修北京.电子工业出版社1992.
  • 2郑华宇.关于集成电路插座[J].机电元件,1995,15(2):62-66. 被引量:3
  • 3Logemann H,Townley S.The effect of small delay in the feedback loop on the stability of neutral systems [J].Syst Contr Lett,1996,27:267-274.
  • 4贾松良等.电子封装与互连手册(第四版),北京.电子工业出版社2009.06.

共引文献4

同被引文献4

引证文献1

二级引证文献1

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