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爱德万测试发布最新高速存储器测试系统T5511 日前，爱德万测试发布了下一代高速DRAM测试系统T5511。T5511是爱德万测试的最新产品，是迄今为止业界高测试速度（8Gbps）的存储器测试系统，今年5月正式开始出货。 T5511是为多样化的DRAM产品提供统一的测试方案：动态随机存储器（简称DRAM）是个人电脑和工作站最常用的存储器类型。现在也被广泛应用于服务器和客户端、移动产品和图形化处理领域中。