元器件工艺环节中静电失效案例

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摘要结合两个失效分析案例,阐述了其中元器件因静电损伤而导致整个系统功能失效的原因及分析过程,并对实际工作中静电敏感器件的设计、防护、工艺控制、使用等提出建议。

作者侯雪川付建祖

机构地区航天科工防御技术研究试验中心

出处《质量与可靠性》 2012年第3期35-37,共3页 Quality and Reliability

关键词元器件静电失效失效分析

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质量与可靠性

2012年第3期

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