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半导体芯片测试成本降低方案
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摘要
随着电子产品日新月异的发展,在产品品质提高同时,产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格,首先需要降低核心芯片的生产成本。测试费用是生产成本的重要组成,其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如何用低成本测试平台(v50)实现高成本测试平台(J750)的功能,进而实现测试成本的降低。
作者
李华
机构地区
寰鼎集成电路(上海)有限公司
出处
《电子世界》
2012年第12期32-33,共2页
Electronics World
关键词
电子产品
芯片
测试平台(V50
J750)
成本降低
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
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