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半导体芯片测试成本降低方案

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摘要 随着电子产品日新月异的发展,在产品品质提高同时,产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格,首先需要降低核心芯片的生产成本。测试费用是生产成本的重要组成,其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如何用低成本测试平台(v50)实现高成本测试平台(J750)的功能,进而实现测试成本的降低。
作者 李华
出处 《电子世界》 2012年第12期32-33,共2页 Electronics World
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参考文献1

  • 1李亚伯.数字电路与系统[M].北京:电子工业出版社.2001.

共引文献2

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