关于VLSI器件中噪声问题的研究

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摘要随着VLSI器件的快速发展,电路中的噪声变成了非常具有挑战性的问题。在VLSI期间中,CMOS凭借着本身的特点发挥着无与伦比的作用。本文介绍了几种降低噪声影响的方法,优化CMOS器件组成电路,提高噪声容忍度,或者是通过直接对器件的某些方面做出调整,降低了器件噪声。

作者燕国庆付璐张洋

机构地区华东师范大学信息科学技术学院

出处《电子世界》 2012年第12期93-94,共2页 Electronics World

关键词 VLSI 降低噪声 INT CMOS Constant-gm

参考文献3

1A low-power COMS low noise amlifier for UWB applicationsUltra-Wideband (ICUWB),2010 IEEE International Conference on Date of ConferenceSept.2010 Author(s):Chang-Hsi Wu Dept.of Electron.Eng.,Lunghwa Univ.of Sci.& Technol.,Taoyuan,Taiwan Yu-Po Lin.
2Design and Analysis of Isolated Noise-Tolerant(INT) Technique in Dynamic CMOS CircuitsVery Large Scale Integra~on(VLS1)Systems,IEEE Transactions Author(s):I- Chyn Wey',You-Gang Chen;An-Yeu Wu l~ublication Yean2008.
3Design a low-noise operadonal amp/ifier with constant- gmAuthor(s):JUi-Lin Lai.Ting-You Lin.Cheng-Fang Tal;yi-Te Lal;Rnng-Jian ChenSICE Annual Conference 2010,Proceedings of Ptblication Year:,2010,Page(s):322-326.

1仰枫帆,宋金书.一种用VLSI器件实现快速窄间隔跳频合成的新方法[J].通信与广播电视,1993(1):10-16.
2张昶,王俊杰.神经元芯片[J].自动化仪表,1997,18(2):37-39.
3李引凡.OFDM技术原理及其应用[J].信息技术与信息化,2004(5):10-13. 被引量：6
4Frost,DF,郑鹏洲.预估VLSI器件可靠性的一种方法—失效机理串联模型法[J].电子产品可靠性与环境试验,1990(2):30-37.
5陈远知.专用集成电路推动航空电子的革命[J].微电子学,1999,29(3):154-157. 被引量：2
6恩云飞.一种新的失效分析技术——光辐射检测技术[J].电子产品可靠性与环境试验,1996,14(4):45-49. 被引量：1
7来新泉,李昕琳,叶强,袁冰,李先锐.A constant-g_m and high-slew-rate operational amplifier for an LCD driver[J].Journal of Semiconductors,2009,30(12):64-68. 被引量：1
8LI Chao,LI Qiang,LING San.On the constructions of constant-composition codes from perfect nonlinear functions[J].Science in China(Series F),2009,52(6):964-973. 被引量：1
9霍京京.ARRIS，服务中国三网融合[J].世界宽带网络,2010(12):47-47.
10李林山,李志舜,马远良.一种后置平滑自适应相干累积算法[J].信号处理,1996,12(1):57-62. 被引量：4

电子世界

2012年第12期

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