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中芯国际与灿芯半导体40LL双核ARM Cortex-A9测试达1.3GHz
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摘要
中芯国际和灿芯半导体近日宣布采用中芯国际40纳米低漏电工艺的ARM CortexTM--A9MPCoreTM双核芯片测试结果达到1.3GHz。该测试芯片基于ARMCortex—A9双核处理器设计,采用了中芯国际的40纳米低漏电工艺。
出处
《中国集成电路》
2012年第7期3-3,共1页
China lntegrated Circuit
关键词
双核处理器
芯片测试
ARM
半导体
国际
工艺
漏电
纳米
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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中国集成电路
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