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中芯国际与灿芯半导体40LL双核ARM Cortex-A9测试达1.3GHz

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摘要 中芯国际和灿芯半导体近日宣布采用中芯国际40纳米低漏电工艺的ARM CortexTM--A9MPCoreTM双核芯片测试结果达到1.3GHz。该测试芯片基于ARMCortex—A9双核处理器设计,采用了中芯国际的40纳米低漏电工艺。
出处 《中国集成电路》 2012年第7期3-3,共1页 China lntegrated Circuit
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