基于实验教学的芯片检测装置的开发

本文基于AT89C52单片机开发一种常用数字集成芯片的检测装置。该装置通过向被测芯片加入激励,获取响应并和预期正确结果相比较来检测其功能是否完好。测试结果表明,该装置可以取得较高的故障覆盖率,且成本低。