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基于双脉冲的IGBT及驱动电路测试方法 被引量:23

A Test Method for IGBT and Its Driving Circuit Based on Double Pulse
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摘要 文章设计了双脉冲测试电路,可以方便地测量IGBT在实际电路中的开关特性与损耗,调节电感的大小与脉冲宽度,可以测试驱动电路的过流保护、短路保护、电压钳位功能,反映了IGBT在实际应用中的动态性能,同时可以计算平面母线的杂散电感,取得了较好的效果。 This paper designs a double pulse test circuit, it can measure IGBT's switching characteristics and power loss easily in the practical circuit, adjust the magnitude and pulse width of the inductance, and can test the overcurrent protection function, short circuit protection function, and the active-clamp function of the driving circuit, thereby reflecting the dynamic performance of IGBT in practical applications, furthermore it can calculate the stray inductance of the plane bus, and get a good effect.
作者 蒋玉想 李征
出处 《电子技术(上海)》 2012年第7期78-80,共3页 Electronic Technology
关键词 双脉冲 绝缘栅双极型晶体管 驱动电路 测试 double pulse IGBT driving circuit test
  • 相关文献

参考文献3

  • 1张岐宁,王晓宝.IGBT模块的测试[J].电力电子技术,2005,39(1):112-114. 被引量:11
  • 2中华人民共和国国家技术监督局.GB/T-17007-1997绝缘栅双极型晶体管测试方法[S].1997.
  • 3中华人民共和国国家标准局.GB4587-84双极型晶体管测试方法[S].1984.

二级参考文献1

  • 1Francisco. DTS-2012T IGBT TESTER USER MANUALCREA ITALY[Z].1996.

共引文献10

同被引文献105

引证文献23

二级引证文献64

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