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科学家首次成功在硅上集成50μm厚锗

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摘要 瑞士和意大利科学家指出,他们在硅上构造单片半导体结构方面取得了重大突破,成功在硅上集成了50μm厚锗,新结构几乎完美无缺,最新研究将让包括X射线技术在内的多个领域受益。
出处 《现代材料动态》 2012年第7期18-19,共2页 Information of Advanced Materials

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