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科学家首次成功在硅上集成50μm厚锗
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摘要
瑞士和意大利科学家指出,他们在硅上构造单片半导体结构方面取得了重大突破,成功在硅上集成了50μm厚锗,新结构几乎完美无缺,最新研究将让包括X射线技术在内的多个领域受益。
出处
《现代材料动态》
2012年第7期18-19,共2页
Information of Advanced Materials
关键词
科学家
集成
半导体结构
硅
锗
X射线技术
意大利
单片
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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