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PtSi红外焦平面芯片可靠性物理分析 被引量:1

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摘要 某单位的红外焦平面芯片,在生产过程中发现成品率较低,主要原因是漏电流大。我们对几个批次产品的统计分析,确定了主要的失效模式;利用液晶分析,E-Beam光辐射显微镜对成品进行了失效定位和失效机理分析;而且通过分析关键工序的半成品揭示了主要失效机理。
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2000年第1期30-33,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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