摘要
在对石英晶片的电性能参数进行测试时,需要对被测晶片施加一个高频扫描激励信号。通常该激励信号可以通过一个直接数字频率合成器(DDS)来实现。若采用固定信号放大器放大输出,则其低频信号幅度将远远大于高频信号幅度,而对被测晶片的激励信号应保持在600mV左右,显然无法通过固定增益放大器达到这一性能指标。由于信号的放大增益,要依据该信号的频率变化而改变,因此设计采用可变增益放大器来实现。
出处
《电子产品世界》
2012年第9期65-65,共1页
Electronic Engineering & Product World