基于最小二乘法的简易电阻测试仪再开发

对于常规电子仪器开发来说，电子元器件由于受到自身固有性能及外界客观环境因素的影响，往往在实际测量与理论计算之间存在一定的偏差．最终导致电子仪器的整体性能受到影响。为了更好地还原真实的理论现象。需要在理论计算和实验测量之间架起一座桥梁．使其能够从不准确的测量值过渡到最终准确的实际输出值。这里．常用到的方法就是数据回归或曲线拟合，那么，其中的核心算法就是最小二乘法。