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引线框架电镀锡须、锡毛刺生成机理与预防
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摘要
引线框架电镀纯锡时,受过程控制及原材料的影响,纯锡镀层极易产生锡须和锡毛刺。锡须和锡毛刺的产生有着不同的机理,因此预防锡须及锡毛刺的产生,需要采取有针对性的措施。本文章从原理上分析了锡须及锡毛刺的产生机理,并结合现有封装电镀工艺流程,有针对性地提出了一些可行的预防措施,为保证集成电路的可靠性提供了理论支持。
作者
李得雄
宁慧
机构地区
天水华天电子集团
出处
《中国集成电路》
2012年第9期65-67,共3页
China lntegrated Circuit
关键词
引线框架
锡须
锡毛刺
产生机理
预防措施
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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中国集成电路
2012年 第9期
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