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Verigy 93000短期校准在变化率测试中的应用

Application of Short-term Calibration of Verigy 93000 in Testing of Change Rate
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摘要 介绍了集成电路电参数变化率对短期校准的需求和Verigy 93000集成电路测试系统的校准方式,研究实现了Verigy 93000集成电路测试系统的短期校准装置,该装置可应用于直流参数变化率测试。 This article describes the short-term calibration requirements of IC electrical parameters' change rate and the calibration methods of Verigy 93000 IC test system. We research and set up short-term calibration device of Verigy 93000, which is used for DC parameters' change rate.
作者 钟明琛 刘彬
出处 《计测技术》 2012年第4期45-47,共3页 Metrology & Measurement Technology
基金 国家科技重大专项课题资助(2008ZX01035-002)
关键词 VERIGY 93000 变化率 短期校准 直流参数 Verigy 93000 change rate short-term calibration DC parameters
  • 相关文献

参考文献4

  • 1The Verigy, Service Guide [ Z] . 2006.
  • 2康益.测试仪器的“在位”校准[J].国外电子测量技术,1991(1):10-14.
  • 3顾建雄.多功能校准器的自动校准技术[J].电子测量技术,1991,14(4):3-8. 被引量:2
  • 4The Verigy, Developing Test Method [Z] . 2006.

共引文献1

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