摘要
介绍了集成电路电参数变化率对短期校准的需求和Verigy 93000集成电路测试系统的校准方式,研究实现了Verigy 93000集成电路测试系统的短期校准装置,该装置可应用于直流参数变化率测试。
This article describes the short-term calibration requirements of IC electrical parameters' change rate and the calibration methods of Verigy 93000 IC test system. We research and set up short-term calibration device of Verigy 93000, which is used for DC parameters' change rate.
出处
《计测技术》
2012年第4期45-47,共3页
Metrology & Measurement Technology
基金
国家科技重大专项课题资助(2008ZX01035-002)