期刊文献+

厚膜铂热电阻的R/t特性

The R/t Characteristics of Thick-Film PtRTD
下载PDF
导出
摘要 本文指出厚膜铂热电阻在-79~600℃范围内是能符合IEC751-83对绕丝式铂热电阻的分度允差的,但厚膜铂热电阻的分度曲线与绕丝式有着较大差别。本文较详细地介绍了其分度特征及减少其与IEC751-83偏差的方法。 The article states that within the range ot -79°to 600℃, the scaling tolerance of thick-film Pt RTD conforms to the IEC 751-83 Standard suitable for thread-wound Pt RTD, but the scaling curves of these two types of RTDs are quite different. The scaling features of thick-film Pt RTD and the method of reducing the deviation from IEC 75l-83 Stan-dard are described in detail.
作者 东人锦
出处 《自动化仪表》 CAS 北大核心 1990年第3期35-38,共4页 Process Automation Instrumentation
  • 相关文献

参考文献1

  • 1李耀霖.-玻璃厚膜电阻器的导电机理[J]电子元件与材料,1982(03).

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部