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业界首台变阵列涡流检测仪(VAECT)问世

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摘要 2012年7月,由爱德森(厦门)电子有限公司独创的世界首台变阵列涡流检测仪(variablearrayed—dycurrenttesting,简称变阵涡流)问世。该仪器具有独创的128通道任意激励/接收变换扫描功能,可根据检测要求随意设置变换扫描法则,可以快速精确地检测出任意方向缺陷,单元检测最高精度达20μm,大大超过了此前业界30μm的极限精度。该功能可进一步扩展至漏磁和磁记忆、声阻抗的点、线、面阵列调控。
作者 赵诚
出处 《无损检测》 2012年第9期54-54,共1页 Nondestructive Testing
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