摘要
介绍了日本理学ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱仪使用中所出现的几例故障现象,对其产生的原因进行了分析,归纳总结了故障排除的方法与过程.
In this paper, a general introduction of common faults of ZSX Primus II -X-Ray fluorescence spectrometers, and the causes of faults are analyzed, the methods and processes for the debugging of faults are summarized.
出处
《分析测试技术与仪器》
CAS
2012年第3期192-193,共2页
Analysis and Testing Technology and Instruments